Kacarita Departemen Energi Amerika Serikat (DOE) bubar ngrilis laporan keandalan driver LED katelu adhedhasar tes urip sing dipercepat kanthi cepet. Peneliti saka Solid-state lighting (SSL) saka Departemen Energi Amerika Serikat percaya yen asil paling anyar wis ngonfirmasi metode tes tekanan cepet (AST), sing nuduhake kinerja sing apik ing macem-macem kahanan sing angel. Kajaba iku, asil tes lan faktor kegagalan sing diukur bisa menehi informasi marang pangembang driver babagan strategi sing cocog kanggo nambah linuwih.

Kaya sing wis dingerteni, driver LED, kaya komponen LED dhewe, penting kanggo kualitas cahya sing optimal. Desain driver sing cocog bisa ngilangi kelip-kelip lan nyedhiyakake cahya sing seragam. Lan driver uga komponèn paling kamungkinan ing lampu LED utawa peralatan cahya kanggo malfunction. Sawise nyadari pentinge pembalap, DOE miwiti proyek uji coba driver jangka panjang ing 2017. Proyek iki kalebu driver saluran siji lan multi-saluran, sing bisa digunakake kanggo ndandani piranti kayata alur langit-langit.

Departemen Energi Amerika Serikat sadurunge wis ngrilis rong laporan babagan proses tes lan kemajuan. Saiki minangka laporan data tes katelu, sing kalebu asil tes produk 6000-7500 jam operasi ing kahanan AST.

Nyatane, industri ora duwe wektu akeh kanggo nyoba drive ing lingkungan operasi normal sajrone pirang-pirang taun. Kosok baline, Departemen Energi Amerika Serikat lan kontraktor RTI International wis nguji aktuator ing lingkungan sing diarani lingkungan 7575 - kelembapan lan suhu njero ruangan dijaga ing 75 ° C. Tes iki kalebu rong tahap tes driver, bebas saka saluran. Desain tataran siji biaya kurang, nanging ora duwe sirkuit kapisah sing pisanan ngowahi AC kanggo DC lan banjur ngatur saiki, kang unik kanggo desain loro-tataran.

Departemen Energi Amerika Serikat nglaporake manawa ing uji coba 11 drive sing beda-beda, kabeh drive mlaku sajrone 1000 jam ing lingkungan 7575. Nalika drive dumunung ing kamar lingkungan, beban LED disambungake menyang drive dumunung ing kahanan lingkungan ruangan, supaya lingkungan AST mung mengaruhi drive. DOE ora nggandhengake wektu operasi ing kondisi AST karo wektu operasi ing lingkungan normal. Kumpulan pisanan piranti gagal sawise 1250 jam operasi, sanajan sawetara piranti isih ing operasi. Sawise nyoba 4800 jam, 64% piranti gagal. Nanging, nimbang lingkungan tes sing atos, asil kasebut wis apik banget.

Peneliti nemokake manawa umume kesalahan kedadeyan ing tahap pertama driver, utamane ing sirkuit supresi faktor daya (PFC) lan gangguan elektromagnetik (EMI). Ing loro tahapan driver, MOSFET uga duwe kesalahan. Saliyane nemtokake wilayah kayata PFC lan MOSFET sing bisa nambah desain driver, AST iki uga nuduhake yen kesalahan biasane bisa diprediksi adhedhasar ngawasi kinerja driver. Contone, ngawasi faktor daya lan arus mundhak bisa ndeteksi kesalahan awal luwih dhisik. Tambah ing sumunar uga nuduhake yen malfunction bakal kelakon.

Wis suwe, program SSL DOE wis nganakake tes lan riset penting ing bidang SSL, kalebu uji coba produk skenario aplikasi ing proyek Gateway lan uji kinerja produk komersial ing proyek Caliper.